X射线光电子能谱(XPS)

1.仪器基本情况
  X射线光电子能谱是一种表面化学分析技术。它可被用来分析材料表面的元素组成,元素化学价态和电子态。不但可以提供样品表面的化学信息,还能给出深度分布方面的信息。是应用最为广泛的表面分析技术。

2.指标及参数
1) 极限真空度:5.0×10-10 mbar;
2) 配置Al/Mg双阳极X光源,最大功率400 W,最高电压15 kV;
3) 极限能量分辨率0.85 eV;
4) 能量扫描范围:0~2000 eV;
5) 能量位置重现性±0.05 eV;
6) 离子枪最大能量:5000 eV。

3.仪器应用
  对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析。 固体样品表面的组成、化学态(元素价态)分析,广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结构鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定。此外在对氧化、腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆等微观机理研究;污染化学、尘埃粒子研究等的环保测定。

Ag标样的全谱